Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
デュアルモード小角散乱カメラ
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2015522809
Kind Code:
A
Abstract:
試料を分析するシステムが与えられる。システムは、試料への１次元Ｘ線ビームを与える１次元動作モードと試料への２次元Ｘ線ビームを与える２次元動作モードとを選択するビーム選択デバイスを含む。

More Like This:
JP2018087820DUAL MODE SMALL ANGLE SCATTERING CAMERA
JP4519455Beam centering method and angle calibration method for X-ray reflector
JP7268156Loosely coupled inspection and metrology system for mass production process monitoring
Inventors:
Gian, Rikai
Application Number:
JP2015516232A
Publication Date:
August 06, 2015
Filing Date:
June 07, 2013
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
Rigaku Innovative Technologies, Inc.
International Classes:
G01N23/201
Domestic Patent References:
JP2008542751A2008-11-27
JP2004093492A2004-03-25
JPH0954050A1997-02-25
Foreign References:
US20110085644A12011-04-14
Attorney, Agent or Firm:
Hidekazu Miyoshi
Masakazu Ito
Yuko Hara



 
Previous Patent: フィン付き共面プロセス流体フランジを備えたプロセス流体流量送信機

Next Patent: リポソームのクルクミン及びその代謝産物であるテトラヒドロクルクミン...