Title:
光学的にガイドされる真空補助生検装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016511035
Kind Code:
A
Abstract:
介入装置、例えば真空補助生検（ＶＡＢ）針は、前記介入装置の側部における体積内の生体組織が、光学分光法により実質的に完全に光学的にプローブされることができるように光ファイバを組み込む。ＶＡＢ実施例において、それぞれの光ポートに接続された複数の光ファイバ対は、吸入空洞に沿った対向する位置に配置され、これらは、この後に読み出され、前記組織が前記ＶＡＢ針により切られる場所に沿った組織特性のマップを作成することを可能にする。光コンソール内の決定ソフトウェアに基づいて、切断空洞内に存在する組織が完全に正常な組織であるか否かが、前記組織に対して生検を実際に実行する前に、決定されることができる。このようにして、ＶＡＢに対する明確に定義された終点が作成される。一実施例において、前記光ファイバは、既存のＶＡＢ針上にフィットする薄いスリーブの壁構造内に配置され、したがって、前記ＶＡＢ針が、光プロービング性能でアップグレードされることを可能にする。
Inventors:
Hendricks Bernardus Hendricks Wilhelms
Reich Christian
Bierhof Wolters Cornelis Joseph
Muller manfred
Fan girl franciscus marinas antonius maria
Fels Ragers Joseph Christian Matthew
Pry Vishnu Waldhan
Stephen Swen
Reich Christian
Bierhof Wolters Cornelis Joseph
Muller manfred
Fan girl franciscus marinas antonius maria
Fels Ragers Joseph Christian Matthew
Pry Vishnu Waldhan
Stephen Swen
Application Number:
JP2015558562A
Publication Date:
April 14, 2016
Filing Date:
October 16, 2013
Export Citation:
Assignee:
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
International Classes:
A61B10/02
Domestic Patent References:
| JP2011514197A | 2011-05-06 | |||
| JP2012504015A | 2012-02-16 | |||
| JP2012509159A | 2012-04-19 |
Foreign References:
| US20050203419A1 | 2005-09-15 | |||
| US8046057B2 | 2011-10-25 |
Attorney, Agent or Firm:
Susumu Tsugaru
Fueda Shusen
Fueda Shusen