Title:
タイヤのライナ層の厚さを測定するシステム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016529494
Kind Code:
A
Abstract:
本発明は、タイヤのゴム状材料の層の厚さを測定するシステムであって、隣接の金属フレームに連結されているフェース及び空気と接触状態にある自由フェースを有し、システムは、ゴム状材料層の自由フェースと接触関係をなすようになっている衝合フェースを備えたハウジング及びハウジング内に配置されていて連結フェースとゴム状材料層の自由フェースとの間の距離ｄを測定することができるセンサを含み、センサは、交番磁界源及び隣接の高感度素子を有し、交番磁界源は、巻線であり、高感度素子は、出力信号が局所誘導磁界の大きさに依存するセンサであり、源巻線の周波数及び励起電力は、隣接の金属フレームと源巻線との間の誘導磁界が距離ｄの減少につれて増強するようなものであることを特徴とする測定システムに関する。
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Inventors:
Redu Thomas
Martin Dennis
Meneld Patrick
Michaud Gregory
Martin Dennis
Meneld Patrick
Michaud Gregory
Application Number:
JP2016528544A
Publication Date:
September 23, 2016
Filing Date:
July 25, 2014
Export Citation:
Assignee:
Company Generale De Establishments Michelin
Michelin Le Cherche et Technic Anonym
Michelin Le Cherche et Technic Anonym
International Classes:
G01B7/06; B60C11/24; B60C19/00; G01B7/00
Domestic Patent References:
| JP2001356002A | 2001-12-26 | |||
| JP2005315732A | 2005-11-10 | |||
| JPS61102504A | 1986-05-21 | |||
| JPH07280504A | 1995-10-27 | |||
| JPS6095304A | 1985-05-28 | |||
| JPS5051754A | 1975-05-08 | |||
| JP2002086586A | 2002-03-26 | |||
| JP2007212278A | 2007-08-23 | |||
| JP2000146510A | 2000-05-26 | |||
| JPS5316113U | 1978-02-10 |
Foreign References:
| US20090000370A1 | 2009-01-01 | |||
| WO2012148826A2 | 2012-11-01 |
Attorney, Agent or Firm:
Takaki Nishijima
Disciple Maru Ken
Shinichiro Tanaka
Ino Sato
Mitsuru Matsushita
Ichiro Kurasawa
Ryo Ishizaki
Disciple Maru Ken
Shinichiro Tanaka
Ino Sato
Mitsuru Matsushita
Ichiro Kurasawa
Ryo Ishizaki