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Title:
走査装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016529535
Kind Code:
A
Abstract:
走査装置は、光源(1)と、ポリゴンミラー(2.1)を有するスキャンユニット(2)と、プリスキャン光学系(3)と、ポストスキャン光学系(4)とを備える。プリスキャン光学系(3)は、光源(1)からの光束(1.1)が、クロス走査平面において入射角(α)でポリゴンミラー(2.1)に当たるように、ポリゴンミラー(2.1)の上流に配置されており、ポストスキャン光学系(4)の光軸は、ポリゴンミラー(2.1)の反射方向に配置されている。光源(1)を走査線(5)に撮像する際に生じる歪み(台形歪み及び走査曲がり)は、ポストスキャン光学系(4)のシリンドリカルミラー(4.2)がクロス走査平面内のポリゴンミラー(2.1)の表面法線に対して第1の傾斜角(β)で傾いており、ポストスキャン光学系(4)の2つの矯正レンズ(4.1.1、4.1.2)の一方が、ポストスキャン光学系(4)の光軸に対して第2の傾斜角(γ)で傾いており、かつ、距離(a)でオフセットされるように配置されていることで、最小化される。

Inventors:
Kruger Ulrich
Dresser Thomas
Heinemann Stephan
Application Number:
JP2016520283A
Publication Date:
September 23, 2016
Filing Date:
June 20, 2014
Export Citation:
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Assignee:
Jenoptik Optical Systems Gamebha
International Classes:
G02B26/12; G03F7/20; H04N1/113
Domestic Patent References:
JP2000019443A2000-01-21
JP2012013867A2012-01-19
JP2007225948A2007-09-06
JP2001509613A2001-07-24
JPS61203421A1986-09-09
JP2000019443A2000-01-21
JP2012013867A2012-01-19
JP2007225948A2007-09-06
JP2001509613A2001-07-24
JPS61203421A1986-09-09
JP2001194601A2001-07-19
JP2000267031A2000-09-29
JP2001194601A2001-07-19
Attorney, Agent or Firm:
Fujita Akira
Hideki Imai
Takashi Matsumoto