Title:
Ｘ線低減システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2017502274
Kind Code:
A
Abstract:
複数フレーム撮像システムは、放射線源と、入力エリアを有する検出器と、検出された画像を表示するように構成されたモニタと、表示された画像上の対象の少なくとも１つの関心領域（ＲＯＩ）を決定するための手段と、前記ｘ線源により照射された入力エリアの少なくとも１つの選択された部分の上に少なくとも１つの関心領域（ＲＯＩ）を投影するための手段を備えたコリメータとを備え、このコリメータは、検出器の入力表面に概ね平行な平面内に取付けられた少なくとも３つの基本的に重ならないプレートであって、各々が、第１近接プレートの縁部と接触する第１縁部、及び第２近接プレートの縁部と接触する、前記第１縁部に隣接する第２縁部を有するプレートと、プレートの各々１つずつを移動させるための手段とを備える。【選択図】図１１
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Inventors:
Guez aron
Melman Lilon
Eden Neil
Nave-Frost Guilad
Melman Lilon
Eden Neil
Nave-Frost Guilad
Application Number:
JP2016538566A
Publication Date:
January 19, 2017
Filing Date:
October 28, 2014
Export Citation:
Assignee:
CONTROLRAD SYSTEMS,INC.
International Classes:
G21K1/02; A61B6/00; G01T7/00; G21K1/04; G21K5/02
Domestic Patent References:
| JP2013244190A | 2013-12-09 | |||
| JP2008539833A | 2008-11-20 | |||
| JP2013231677A | 2013-11-14 |
Foreign References:
| US20130044860A1 | 2013-02-21 | |||
| US20090001296A1 | 2009-01-01 |
Attorney, Agent or Firm:
Hayashi Ichiyoshi
Tetsuo Shiba
Takuya Saito
Iwaike Mitsuru
Kazuhiro Kosuga
Hiroshi Hayashi
Tetsuo Shiba
Takuya Saito
Iwaike Mitsuru
Kazuhiro Kosuga
Hiroshi Hayashi