Title:
マルチラインアレイレーザ光３次元走査システム、及びマルチラインアレイレーザ光３次元走査方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2018516377
Kind Code:
A
Abstract:
本発明はマルチラインアレイレーザ光３次元走査システム及びマルチラインアレイレーザ光３次元走査方法を提供する。このシステムはプログラマブルゲートアレイＦＰＧＡ（１０１）によって、マルチラインアレイレーザ光３次元走査システムの精確な同期及びロジック制御を実現し、ラインレーザアレイ（１０３）を投影の光源として採用し、ＦＰＧＡ（１０１）によって、トリガー信号を立体視画像センサー（１０２Ａ）、慣性センサー（１０２Ｂ）及びラインレーザアレイ（１０３）に送信し、ホストコンピュータ（１０５）は立体視画像センサー（１０２Ａ）により撮影された画像対を受信して、この画像対中のレーザ光ラインアレイパターンに対して符号化・復号化及び３次元再構成を行い、被測定物体表面の特徴点に対して３次元再構成と、異なる時刻の間の３次元特徴点のマッチング・整列を行う。複合センシング式測位技術により、マッチング演算に対して予測及び誤り訂正を行い、時間領域レーザ光３次元走査データのレジストレーションとスティッチングに使用する。同時に測定誤差のグレードをリアルタイムに評価し、誤差フィードバック制御器（１０４）にフィードバックして調整の指示を出させる。これにより、低コスト、高効率、高信頼性かつ高精度のレーザ光３次元走査を図ることができる。【選択図】図２
Inventors:
Doo, Fur
Lee, Range
Yi, Chainway
Lee, Range
Yi, Chainway
Application Number:
JP2018515340A
Publication Date:
June 21, 2018
Filing Date:
January 28, 2016
Export Citation:
Assignee:
Tenyou Sunway Technology Co., Ltd.
International Classes:
G01B11/25; G01B11/24
Domestic Patent References:
| JP2012058076A | 2012-03-22 | |||
| JPH07260444A | 1995-10-13 | |||
| JP2015145797A | 2015-08-13 |
Foreign References:
| CN104165600A | 2014-11-26 |
Attorney, Agent or Firm:
Mikio Yoshimiya
Toshihiro Kobayashi
Toshihiro Kobayashi