Title:
光学システムにおいて参照および戻された光ビームを測定するためのシステムおよび方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2019527830
Kind Code:
A
Abstract:
単一のセンサーアレイを使う測定システムにおいて、ターゲットからの参照ビームおよび対応する戻されたビームを測定するための技法を、本明細書で開示する。システムは、参照ビームのロケーションが、センサーアレイ上で、戻されたビームのロケーションから空間的に離れるように構成される。参照ビームに対応する、センサーアレイ上の第1のセンサー要素のセットが、レーザービーム走査制御信号に基づいて動的にアクティブ化される。第1のセンサー要素のセットからの検出信号は、参照ビームのロケーションおよび/またはパターンを判断するのに使われ、これらは次いで、同じセンサーアレイ上の、対応する戻されたビームのロケーションおよび/またはパターンを推定し、対応する戻されたビームの推定ロケーションおよび/またはパターンに基づいて、センサーアレイ上の第2のセンサー要素のセットを動的に選択し、アクティブ化するのに使われる。
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Inventors:
Thadeus Jaroshinsky
Volodymyr Throbojanic
John Wilwas
Manafu Liner
Elbert McLaren
Volodymyr Throbojanic
John Wilwas
Manafu Liner
Elbert McLaren
Application Number:
JP2019505352A
Publication Date:
October 03, 2019
Filing Date:
July 11, 2017
Export Citation:
Assignee:
Qualcomm, Inc.
International Classes:
G01C3/06; G01S7/484; G01S7/4863
Domestic Patent References:
| JP2002039716A | 2002-02-06 | |||
| JP2010504509A | 2010-02-12 | |||
| JPH11160436A | 1999-06-18 | |||
| JP2014059301A | 2014-04-03 |
Foreign References:
| US20140071433A1 | 2014-03-13 |
Attorney, Agent or Firm:
Yasuhiko Murayama
Kuroda Shinpei
Kuroda Shinpei