Title:
シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2020526777
Kind Code:
A
Abstract:
シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法であって、該装置は、校正放射線源（２０）、少なくとも２つのコンパレータ（３０）、計数モジュール（４０）、温度センサ（７０）、及びシングルチップマイクロコンピューター（５０）を備え、各コンパレータ（３０）は、いずれも光電子デバイス（１２）に通信可能に接続されて異なるエネルギー域のアナログ電圧信号をデジタルパルス信号に変換し、計数モジュール（４０）は、それぞれ各コンパレータ（３０）に通信可能に接続されて、デジタルパルス信号の計数率を同時に測定し、温度センサ（７０）は、シンチレーション検出器の表面温度データを実測し、シングルチップマイクロコンピューター（５０）は、計数モジュール（４０）に通信可能に接続されて、計数率及び実測温度データに基づき目標ゲイン及び補正電圧を計算し、高圧電源（６０）は、シングルチップマイクロコンピューター（５０）に接続されて補正電圧を受信し、さらに、光電子デバイス（１２）に接続されて補正電圧に基づき光電子デバイスのゲイン補正を実現する。本発明は、温度に応じてゲインを直接調整することができ、情報のロスを回避することができ、校正速度を高めて、ゲイン補正の効率を向上させる。【選択図】図４
Inventors:
Hiroshi Kang
▲ケイ▼ 明俊
Zhu Yujin
Xie Gyeongguk
▲ケイ▼ 明俊
Zhu Yujin
Xie Gyeongguk
Application Number:
JP2020522767A
Publication Date:
August 31, 2020
Filing Date:
October 27, 2017
Export Citation:
Assignee:
RAYCAN TECHNOLOGY CO., LTD.
International Classes:
G01T1/20; G01T1/164
Domestic Patent References:
| JP2002196080A | 2002-07-10 | |||
| JP2014211381A | 2014-11-13 | |||
| JP2007537583A | 2007-12-20 |
Foreign References:
| US20160266260A1 | 2016-09-15 | |||
| US20100243878A1 | 2010-09-30 | |||
| US20110031405A1 | 2011-02-10 | |||
| CN101210970A | 2008-07-02 | |||
| WO2016065099A1 | 2016-04-28 |
Other References:
P. DOROSZ ET AL.: "Silicon photomultiplier's gain stabilization by bias correction for compensation of the temperature", NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A: ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTOR, vol. 718, JPN6021006876, 2013, pages 202 - 204, ISSN: 0004456350
MARCO RAMILLI ET AL.: "Silicon Photomultipliers: Characterization and Applications", PHOTODETECTORS, JPN6021006878, 2012, pages 78 - 100, ISSN: 0004456351
MARCO RAMILLI ET AL.: "Silicon Photomultipliers: Characterization and Applications", PHOTODETECTORS, JPN6021006878, 2012, pages 78 - 100, ISSN: 0004456351
Attorney, Agent or Firm:
Isono International Patent and Trademark Office