Title:
電子部品材料の品質管理方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP3977761
Kind Code:
B2
Inventors:
Miyuki Takenaka
Yabuki Motoo
Tetsuya Tatebe
Yabuki Motoo
Tetsuya Tatebe
Application Number:
JP2003058748A
Publication Date:
September 19, 2007
Filing Date:
March 05, 2003
Export Citation:
Assignee:
Toshiba Corporation
International Classes:
G01N27/62; G01N1/28; G01N31/00; H01L21/02
Domestic Patent References:
| JP11097321A | ||||
| JP2001099766A | ||||
| JP2001185073A |
Other References:
島田実,“欧州におけるWEEE/RoHSの概要”,セラミックス 特集 環境対策とセラミックス(1),2002年11月,第37巻第11号,第866-870頁
今泉幸子,他1名,“SIMS及びLA-ICP-MSによる環境鉛の同位体比測定”,日本科学会第82秋季年会(2002)科学関係学協議会研究発表会連合討論会合同大会,2002年 9月10日,232頁
今泉幸子,他1名,“SIMS及びLA-ICP-MSによる環境鉛の同位体比測定”,日本科学会第82秋季年会(2002)科学関係学協議会研究発表会連合討論会合同大会,2002年 9月10日,232頁
Attorney, Agent or Firm:
Hidekazu Miyoshi
Iwa Saki Kokuni
Kawamata Sumio
Nakamura Tomoyuki
Masakazu Ito
Shunichi Takahashi
Toshio Takamatsu
Iwa Saki Kokuni
Kawamata Sumio
Nakamura Tomoyuki
Masakazu Ito
Shunichi Takahashi
Toshio Takamatsu