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Patent Searching and Data


Title:
光学的方法による膜内外電位差の検出
Document Type and Number:
Japanese Patent JP4033899
Kind Code:
B2
Inventors:
ツィエン,ロジャー,ワイ.
ゴンザレズ,ジーザス,イー.,サード
Application Number:
JP50192697A
Publication Date:
January 16, 2008
Filing Date:
June 06, 1996
Export Citation:
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Assignee:
ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティー オブ カリフォルニア
International Classes:
G01N21/78; G01N33/52; C07D209/08; C07D213/74; C07D215/22; C07D215/48; C07D215/50; C07D215/54; C07D239/60; C07D239/62; C07D239/66; C07D311/08; C07D311/16; C07D335/06; C07F5/00; C07F5/02; C07F9/10; C07F9/572; C09B23/02; C09K11/06; G01N21/76; G01N33/50; G01N33/542; G01N33/58; G01N33/68
Domestic Patent References:
JP7063756A
JP7103983A
JP5249605A
JP2217867A
Foreign References:
Attorney, Agent or Firm:
平木 祐輔
石井 貞次
島村 直己