Title:
欠陥数予測装置及び欠陥数予測プログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP5793228
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】ソフトウェアに混入している欠陥の数を的確に予測することを目的とする。【解決手段】欠陥数予測装置１０は、ソフトウェアを品質によって分類した品質グループ毎に、ソフトウェアに関する情報であるソフトウェア情報からそのソフトウェアに混入している欠陥の予測数を計算する予測ロジックを用いて、対象ソフトウェアについてのソフトウェア情報から、対象のソフトウェアが各品質グループに属する場合に混入している欠陥の予測数を計算する。欠陥数予測装置１０は、計算した予測数に、対象のソフトウェアが各品質グループに属する確率を乗じて重み付して、重み付した予測数を合計して、混入している欠陥の予測数とする。【選択図】図１
Inventors:
Yamada Chimitsu
Yonezawa Hiroyasu
Yonezawa Hiroyasu
Application Number:
JP2014169285A
Publication Date:
October 14, 2015
Filing Date:
August 22, 2014
Export Citation:
Assignee:
Mitsubishi Electric Information Systems Co., Ltd.
International Classes:
G06F9/44; G06F11/36
Domestic Patent References:
| JP2003029970A | 2003-01-31 | |||
| JP2013257821A | 2013-12-26 | |||
| JP2005326953A | 2005-11-24 |
Attorney, Agent or Firm:
Shoji Mizoi
Maki Takashi
Maki Takashi