Title:
光モジュールの検査システム、検査方法及び製造方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6560793
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】同じ検査機器に検査要求が重複することを抑制することによって、待機時間を抑制し、検査時間を短縮させる。【解決手段】検査システムは、複数の光モジュールの検査を並行して行う検査システムであって、光モジュールの検査をそれぞれ個別に行う複数の個別検査装置１０と、複数の光モジュールの検査に用いられる共用検査器を有する共用検査装置２０と、を備える。個別検査装置は、制御部及び専用検査器を有する。個別検査装置の制御部は、検査に用いられる検査器を判定する。共用検査器を用いる検査を行う場合には、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していなければ、その共用検査器を用いて光モジュールを検査し、他の個別検査装置がその共用検査器を用いて検査していれば、その共用検査器の検査が終わるまで光モジュールの検査を待機する。専用検査器を用いる検査を行う場合には、専用検査器を用いて光モジュールを検査する。【選択図】図１
Inventors:
Ryohei Sugiura
Shiba Saki Yukiya
Shiba Saki Yukiya
Application Number:
JP2018114503A
Publication Date:
August 14, 2019
Filing Date:
June 15, 2018
Export Citation:
Assignee:
Fujikura Ltd.
Fujikura Solutions Co., Ltd.
Fujikura Solutions Co., Ltd.
International Classes:
G01M11/00; H04B10/07
Domestic Patent References:
| JP2015219091A | ||||
| JP2015233233A | ||||
| JP2015088806A |
Foreign References:
| WO2003004986A1 | ||||
| US6676304 |
Attorney, Agent or Firm:
Isshiki International Patent Service Corporation