Title:
構造物計測装置および構造物計測方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6591131
Kind Code:
B1
Abstract:
本発明は、構造物を正確に計測することが可能な構造物計測装置および構造物計測方法を提供することを目的とする。本発明による構造物計測装置は、モービルマッピングシステムで計測された構造物における複数の計測点の集合である点群データ（５）と、構造物の基準となる形状を表す基準形状データ（６）とを入力するデータ入出力部（２）と、基準形状データ（６）において各計測点に対応する複数の対応点を算出する対応点算出部（８）と、各計測点と各対応点とに基づいて、各計測点を補正するアフィン変換を算出する変換算出部（１１）と、変換算出部（１１）が算出したアフィン変換で各計測点を補正し、当該補正後の各計測点の集合である補正点群データ（７）を得る点群データ補正部（１２）とを備える。
Inventors:
Katsuyuki Kamei
Masashi Watanabe
Hiroyuki Fujibayashi
Megumi Irie
Masashi Watanabe
Hiroyuki Fujibayashi
Megumi Irie
Application Number:
JP2019531339A
Publication Date:
October 16, 2019
Filing Date:
February 07, 2019
Export Citation:
Assignee:
Mitsubishi Electric Corporation
International Classes:
G01C15/00; G01C7/06; G01S17/88
Domestic Patent References:
| JP2008089307A | 2008-04-17 | |||
| JP2013182554A | 2013-09-12 | |||
| JP2004258924A | 2004-09-16 | |||
| JP2012220471A | 2012-11-12 |
Foreign References:
| CN104567708A | 2015-04-29 |
Attorney, Agent or Firm:
Yoshitake Hidetoshi
Takahiro Arita
Takahiro Arita