Title:
乱数生成装置及び乱数生成方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2004017191
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明は、雑音発生素子がランダムに発生する雑音に基づいて物理乱数を生成する乱数生成装置及び乱数生成方法に関連し、簡易な回路構成でありながら、より高速に真の乱数を生成するとともに、乱数値の出現頻度を均一化することを目的とする。乱数生成装置は、熱雑音発生素子において発生した熱雑音に基づく波形を増幅し、その出力信号が所定の閾値より低い状態から当該閾値を上回った時点においてランダムパルスを生成する。一方、一定周期を有する基準パルスを生成する基準パルス発生手段と、基準パルスと前記ランダムパルスとの間の時間間隔を計測する計時手段とが設けられ、この計時手段による計測値を乱数値として出力する。
Inventors:
Takeshi Saito
Application Number:
JP2004528826A
Publication Date:
December 08, 2005
Filing Date:
February 04, 2003
Export Citation:
Assignee:
ISAS Research Institute, Inc.
L-Tech Co., Ltd.
Mitsui & Co., Ltd.
L-Tech Co., Ltd.
Mitsui & Co., Ltd.
International Classes:
G06F7/58; G06F1/02; (IPC1-7): G06F7/58
Attorney, Agent or Firm:
Sadao Kumakura
Fumiaki Otsuka
Toshio Imajo
Takaki Nishijima
Hiroshi Uesugi
Fumiaki Otsuka
Toshio Imajo
Takaki Nishijima
Hiroshi Uesugi
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