Title:
カスタマイズ可能なチップおよびその製造方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2005024436
Kind Code:
A1
Abstract:
分析項目に応じてカスタマイズ可能な分析チップおよびその製造方法を提供する。チップ（３１３）において、主流路（２２１）から分岐し、複数の検出槽（２２３）のそれぞれに連通する分注流路（２２２）を設ける。各分注流路（２２２）に調節部（３１４）を設け、調節部（３１４）の開閉を設定する。分析部に設けた調節部を設定することで、多種類の分析ステップを実現する。
Inventors:
Kazuhiro Iida
Takashi Tanaka
Takashi Tanaka
Application Number:
JP2005513670A
Publication Date:
November 08, 2007
Filing Date:
September 02, 2004
Export Citation:
Assignee:
NEC
International Classes:
G01N35/08; B01L3/00; C12M1/34; C12Q1/32; C12Q1/42; C12Q1/48; G01N33/53; G01N33/576; G01N33/66; G01N33/68; G01N33/72; G01N33/92; G01N37/00
Attorney, Agent or Firm:
Shinji Hayami