Title:
検査装置、及び、検査方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2011052541
Kind Code:
A1
Abstract:
回転機構（１０３）によって、中心軸を回転軸としてプリフォーム（１０）を回転させながら、検出器（１０２）によって、側面から平行光線を入射させることにより生じたプリフォーム（１０）の前方散乱光の強度分布を逐次検出する。判定部（１０６）は、前方散乱光の強度分布から算出した特長量の時系列に基づいて、貫通孔が予め定められた位置に形成されているか否かを判定する。
Inventors:
Itaru Ishida
Application Number:
JP2011538416A
Publication Date:
March 21, 2013
Filing Date:
October 25, 2010
Export Citation:
Assignee:
Fujikura Ltd.
International Classes:
G01M11/00
Attorney, Agent or Firm:
Kenzo Hara International Patent Office