Title:
故障原因診断システムおよびその方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2011104760
Kind Code:
A1
Abstract:
機器に多数のセンサを設置し、機器の稼動状態を常に監視し、機器の正常時のセンサデータと比較することにより、現在の機器の状態が正常であるか異常であるかを判断し、その診断結果に応じて保守を行う状態ベース予防保全が広がりつつある。状態ベース予防保全では機器の経年劣化を迅速に察知することが可能となるため、定期保全では発見することができなかった異常を発見できるようになる。しかしながら、従来の診断技術では正常，異常の判断はできるものの、異常の現象や部品を含む原因を特定することは困難であった。診断対象機器が正常状態から外れていると判断した場合に、正常状態を基準として各パラメータの外れ度合いを異常寄与度として算出し、その異常寄与度と過去に収集した故障現象や故障部品を含む故障原因毎の異常寄与度との類似度から故障原因を推定する。
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Inventors:
Hiroki Uchiyama
Shinya Yuda
Hideaki Suzuki
Kozo Nakamura
Shinya Yuda
Hideaki Suzuki
Kozo Nakamura
Application Number:
JP2012501528A
Publication Date:
June 17, 2013
Filing Date:
February 26, 2010
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G05B23/02
Attorney, Agent or Firm:
Manabu Inoue