Title:
テラヘルツ波分光計測装置及びプリズム部材
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2012132645
Kind Code:
A1
Abstract:
テラヘルツ波分光計測装置１では、本体部分５１に第１のプリズム部分６１又は第２のプリズム部分が嵌合することにより、分光プリズム３１の内部を伝播するテラヘルツ波Ｔの光路を容易に切り替えることができる。本体部分５１に第１のプリズム部分６１が嵌合しているときには、入射面３１ａから入射したテラヘルツ波Ｔが凹部５１ａを透過して配置部３１ｃで反射し、反射型の分光計測を行うことができる。また、本体部分５１に第２のプリズム部分７１が嵌合しているときには、入射面３１ｃから入射したテラヘルツ波Ｔが凹部５１ａで屈折して溝部７１ａ内の被測定物３４を透過し、透過型の分光計測を行うことができる。
Inventors:
Takashi Yasuda
Youichi Kawada
Atsushi Nakanishi
Akiyama Koichiro
Hironori Takahashi
Youichi Kawada
Atsushi Nakanishi
Akiyama Koichiro
Hironori Takahashi
Application Number:
JP2013507262A
Publication Date:
July 24, 2014
Filing Date:
February 21, 2012
Export Citation:
Assignee:
Hamamatsu Photonics Co., Ltd.
International Classes:
G01N21/3581
Domestic Patent References:
| JP2008224451A | 2008-09-25 | |||
| JP2004093495A | 2004-03-25 | |||
| JP2007279025A | 2007-10-25 | |||
| JP2008224452A | 2008-09-25 | |||
| JP2010014642A | 2010-01-21 |
Foreign References:
| US4602869A | 1986-07-29 | |||
| WO2006051778A1 | 2006-05-18 |
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiki Hasegawa
Yoshiki Kuroki
Satoru Ishida
Hiromitsu Nakayama
Yoshiki Kuroki
Satoru Ishida
Hiromitsu Nakayama