Title:
テラヘルツ波分光計測装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2012132647
Kind Code:
A1
Abstract:
テラヘルツ波分光計測装置１では、分光プリズム３１において、本体部分５１に対してスライド可能なプリズム部分５２が設けられている。そして、プリズム部分５２の上面の配置面３１ｃには、被測定物３４が配置される配置領域Ｋがスライド方向に沿って複数設けられている。したがって、一つの被測定物３４について光学定数の測定が終了した後、プリズム部分５２をスライドさせて次の被測定物３４をテラヘルツ波Ｔの光路上に移動させることにより、配置面３１ｃの清掃を省いて複数の被測定物３４の測定をスムーズに行うことができる。
Inventors:
Takashi Yasuda
Akiyama Koichiro
Youichi Kawada
Atsushi Nakanishi
Hironori Takahashi
Akiyama Koichiro
Youichi Kawada
Atsushi Nakanishi
Hironori Takahashi
Application Number:
JP2013507263A
Publication Date:
July 24, 2014
Filing Date:
February 21, 2012
Export Citation:
Assignee:
Hamamatsu Photonics Co., Ltd.
International Classes:
G01N21/552; G01N21/3586
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiki Hasegawa
Yoshiki Kuroki
Satoru Ishida
Hiromitsu Nakayama
Yoshiki Kuroki
Satoru Ishida
Hiromitsu Nakayama