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Title:
透明基体の光学特性を評価する方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2014129360
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明は、表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値(T)と定量化された反射像拡散性指標値(R)及び定量化されたぎらつき指標値の中から2つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする。本発明によると、目的や用途に応じて、透明基体とそれに施工するアンチグレア処理を適正に選定することができる。本発明は、例えば、LCD装置、OLED装置、PDP装置、およびタブレット型表示装置の各種表示装置に設置される透明基体の光学特性評価に利用することができる。

Inventors:
Minoru Tamada
Yusuke Kobayashi
Senoo tool exhibition
Application Number:
JP2015501407A
Publication Date:
February 02, 2017
Filing Date:
February 12, 2014
Export Citation:
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Assignee:
Asahi Glass Co., Ltd.
International Classes:
G01M11/00
Domestic Patent References:
JP2007156132A2007-06-21
JPH09189905A1997-07-22
JP2008197414A2008-08-28
Foreign References:
US20120218640A12012-08-30
Other References:
卯月 義文, 半谷 精一郎: "「LCDの画面解像度と主観画質の関係」", 2004年電子情報通信学会総合大会講演論文集,情報・システム(2), JPN6014013384, 8 March 2004 (2004-03-08), pages 34, ISSN: 0003582336
板倉 義雄: "「FPD用光学フィルムの種類と技術動向」", 月刊ディスプレイ, vol. 13, no. 6, JPN6014013385, 1 June 2007 (2007-06-01), pages 2 - 14, ISSN: 0003582337
Attorney, Agent or Firm:
Tadashige Ito
Tadahiko Ito