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Title:
光学特性測定装置及び光学特性測定装置の設定方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2016203902
Kind Code:
A1
Abstract:
光学特性測定装置は、分光センサを用いた測定について、第1の露光時間及び第1の積算回数が入力される入力部と、入力された第1の露光時間と第1の積算回数とを用いて、分光センサを用いた測定の測定時間(第1の測定時間)を算出する算出部と、第1の測定時間と二次元イメージセンサを用いた測定の測定時間(第2の測定時間)との差を小さくし、又は、差をなくすように、二次元イメージセンサを用いた測定での第2の露光時間及び第2の積算回数の少なくとも一方を決定する決定部と、を備える。

Inventors:
Minoru Maeda
Application Number:
JP2017524749A
Publication Date:
April 05, 2018
Filing Date:
May 23, 2016
Export Citation:
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Assignee:
Konica Minolta Co., Ltd.
International Classes:
G01J1/44; G01J1/38; G01J3/51; G01M11/00
Domestic Patent References:
JP2010271246A2010-12-02
JPH06323910A1994-11-25
JP2003075257A2003-03-12
JPS6343486A1988-02-24
JP3246021B22002-01-15
JP2008216203A2008-09-18
JP2008039783A2008-02-21
JP2015099074A2015-05-28
JP2008281536A2008-11-20
JPH0344524A1991-02-26
Attorney, Agent or Firm:
Etsushi Kotani
Masataka Otani
Satoshi Sakurai



 
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