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Title:
非破壊検査装置と方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2017043581
Kind Code:
A1
Abstract:
中性子の後方散乱を利用した非破壊検査装置１０は、検査対象物１の表面１ａへパルス中性子線を放出する中性子源３と、検査対象物１において散乱して戻って来た散乱中性子を検出する中性子検出装置５と、中性子検出装置５による、戻って来た散乱中性子の検出数を計測し、検出数を時間に対して表した検出数データを生成する計測装置７とを備える。

Inventors:
Yoshie Otake
Yoshimasa Ikeda
Application Number:
JP2017539219A
Publication Date:
June 28, 2018
Filing Date:
September 08, 2016
Export Citation:
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Assignee:
RIKEN
International Classes:
G01N23/204
Domestic Patent References:
JP2008180700A2008-08-07
JP2010175362A2010-08-12
JPH10185843A1998-07-14
JP2009544958A2009-12-17
Attorney, Agent or Firm:
Minoru Hotta



 
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