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Title:
粒子検出センサ
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2019044250
Kind Code:
A1
Abstract:
計測対象に含まれる複数の粒子を検出する粒子検出センサ（１）は、検出領域（ＤＡ）に向けて光を出射する投光部（２０）と、複数の粒子の少なくとも１つである対象粒子が検出領域（ＤＡ）を通過した場合に、当該対象粒子による光の散乱光を受光する受光部（３０）と、投光部（２０）及び受光部（３０）を収納し、内部に検出領域（ＤＡ）を有する筐体（１０）と、信号処理回路（５０）とを備え、信号処理回路（５０）は、複数の粒子が検出領域（ＤＡ）を通過していない時に受光部（３０）によって受光される迷光の受光強度の経時変化量を取得し、取得した経時変化量に基づいて、散乱光の受光強度を補正し、補正された散乱光の受光強度に基づいて、対象粒子を複数の粒子サイズのいずれかに分類し、かつ、検出された対象粒子の個数を特定することで、計測対象に含まれる粒子の質量濃度を算出する。

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Inventors:
Nagaya Kichisho
Takashi Nakagawa
Keiko Kawahito
Noriyuki Yasuike
Application Number:
JP2019539053A
Publication Date:
March 26, 2020
Filing Date:
July 20, 2018
Export Citation:
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Assignee:
Panasonic IP Management Co., Ltd.
International Classes:
G01N15/02
Domestic Patent References:
JP2015210183A2015-11-24
JPH06201582A1994-07-19
JPH10334363A1998-12-18
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JP2002195946A2002-07-10
JPH1194741A1999-04-09
JPH01213794A1989-08-28
Foreign References:
WO2017217078A12017-12-21
Attorney, Agent or Firm:
Hiromori Arai
Eisaku Teratani
Shinichi Michisaka



 
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