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Title:
分析装置、分析方法及びプログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024022159
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】精度の良い操作手順を得ることができる技術を提供する。【解決手段】本開示の一態様による分析装置は、対象の状態を表す複数の変数の計測値を含むサンプルデータの時系列データで表現されるセンサデータを用いて、前記センサデータに含まれるサンプルデータの中から、前記対象に異常又は異常兆候が発生したときの復旧又は回避操作手順を得るためのモデル構築用データを選定するように構成されている選定部と、前記モデル構築用データを用いて、前記異常又は異常兆候と関連がある変数を表す対象異常変数と、前記複数の変数のうちの前記復旧又は回避操作手順を構成する変数の候補となる変数を表す候補変数との間のグレンジャー因果関係を表す因果モデルを構築するように構成されているモデル構築部と、前記因果モデルから前記復旧又は回避操作手順を抽出するように構成されている抽出部と、を有する。【選択図】図16

Inventors:
Kaoru Arai
Satoshi Suzuki
Application Number:
JP2022125528A
Publication Date:
February 16, 2024
Filing Date:
August 05, 2022
Export Citation:
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Assignee:
Fuji Electric Co., Ltd.
International Classes:
G05B23/02
Domestic Patent References:
JP2014002579A2014-01-09
JP2022029983A2022-02-18
JP2018181021A2018-11-15
Foreign References:
US20210142161A12021-05-13
WO2015037118A12015-03-19
WO2022130556A12022-06-23
WO2018167826A12018-09-20
WO2021130867A12021-07-01
WO2022064657A12022-03-31
Attorney, Agent or Firm:
Tadashige Ito
Tadahiko Ito