Title:
コントローラ及び光干渉測距センサ
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024048615
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】主干渉計で生成される信号を適切なタイミングでサンプリングする。【解決手段】コントローラ１１０は、光源１４０と、主干渉信号を生成する主干渉計１５０と、副干渉信号を生成する副干渉計１６０と、可変遅延量を生成する可変遅延量生成部と、副干渉信号と可変遅延量とに基づいて、主干渉信号のサンプリング周期を補正する補正信号を生成する補正信号生成部１７１と、主干渉信号と補正信号とに基づいて計測対象物Ｔまでの距離を計測する処理部１１８と、補正信号に基づいてサンプリングされた主干渉信号のデジタル信号に基づく信号におけるピークと、主干渉計１５０で生成される反射信号のデジタル信号であって、補正信号に基づいてサンプリングされたデジタル信号に基づく信号におけるピークとのうち、少なくとも一方に基づいて、可変遅延量を設定する可変遅延量設定部１９５と、を備える。【選択図】図１０
Inventors:
Kazuya Kimura
Application Number:
JP2022154628A
Publication Date:
April 09, 2024
Filing Date:
September 28, 2022
Export Citation:
Assignee:
Omron Corporation
International Classes:
G01B11/00; G01B9/02004; G01B9/02055
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiyuki Inaba
Toshifumi Onuki
Akihiko Eguchi
Kazuhiko Naito
Toyotaka Abe
Toshifumi Onuki
Akihiko Eguchi
Kazuhiko Naito
Toyotaka Abe