Title:
コントローラ及び光干渉測距センサ
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024048669
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】サンプリングのタイミングのずれを低減する。【解決手段】計測対象物に光を照射する第１センサヘッド１２１及び第２センサヘッド１２２のそれぞれに、光ファイバケーブル１３０を介して接続されるコントローラ１１０であって、光源１４０と、第１主干渉信号を生成する第１主干渉計１５１と、第２主干渉信号を生成する第２主干渉計１５２と、副干渉信号を生成する副干渉計１６０と、を備え、コントローラ１１０は、第１補正信号を生成する第１補正信号生成部１７１と、第１光ファイバ１３１の光路長と第２光ファイバ１３２の光路長との光路長差に基づく遅延量を生成する遅延量生成部と、副干渉信号と遅延量とに基づいて、第２主干渉信号のサンプリング周期を補正する第２補正信号を生成する第２補正信号生成部１７２と、をさらに備える。【選択図】図１０
More Like This:
Inventors:
Kazuya Kimura
Yusuke Nagasaki
Yusuke Nagasaki
Application Number:
JP2022154714A
Publication Date:
April 09, 2024
Filing Date:
September 28, 2022
Export Citation:
Assignee:
Omron Corporation
International Classes:
G01B11/00; G01B9/02004; G01B9/02055
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiyuki Inaba
Toshifumi Onuki
Akihiko Eguchi
Kazuhiko Naito
Toyotaka Abe
Toshifumi Onuki
Akihiko Eguchi
Kazuhiko Naito
Toyotaka Abe