Title:
劣化推定方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024054609
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】半導体素子を封止したパワーカードと冷却器の間に塗布されるグリスの抜けに起因した劣化を推定する劣化推定方法が必要とされている。【解決手段】劣化推定装置は、冷熱サイクルによる熱抵抗の劣化カーブを記憶する記憶工程であって、劣化カーブは複数の温度差ごとに記憶される、記憶工程と、半導体素子が動作することによる冷熱サイクルの見積データを入力し、見積データに含まれる冷熱サイクルの温度差ごとに、対応する劣化カーブに基づいて熱抵抗の増加分を計算し、劣化カーブごとに計算された熱抵抗の増加分を積算して熱抵抗の全体の増加分を推定する推定工程と、を備えている。推定工程では、冷熱サイクルの温度差が低い劣化カーブから順に熱抵抗の増加分を積み上げるように積算して熱抵抗の全体の増加分が推定される。【選択図】図３
More Like This:
| JP2003324167 | CERAMIC CIRCUIT BOARD |
Inventors:
Yasuki Nakano
Application Number:
JP2022160937A
Publication Date:
April 17, 2024
Filing Date:
October 05, 2022
Export Citation:
Assignee:
Toyota Motor Corporation
International Classes:
H01L23/36; G01N25/72
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation Kaiyu International Patent Office
Previous Patent: Data transmitting/receiving device and data transmitting/receiving system
Next Patent: bath system
Next Patent: bath system