Title:
Ｘ線画像取得システムにおける散乱線除去グリッドの位置を制御するためのデバイス、システム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2021519133
Kind Code:
A
Abstract:
本発明は、Ｘ線画像取得システムにおける散乱線除去グリッドの位置を制御するためのデバイスであって、デバイス１０が、測定ユニット１２と、制御ユニット１４と、シフトユニット１６とを備え、測定ユニット１２が、Ｘ線画像取得システムのＸ線検出器に対するＸ線画像取得システムのＸ線放射源のＸ線ビーム焦点位置３７を決定するように構成され、制御ユニット１４が、Ｘ線ビーム焦点位置３７と散乱線除去グリッドのグリッド焦点位置３５との間の変位１８に基づいてシフト信号を生成するように構成され、シフト信号に基づいて、シフトユニット１６が、散乱線除去グリッドをＸ線ビーム焦点位置３７と整合させるために少なくとも１つの方向においてＸ線画像取得システムの散乱線除去グリッドをシフトするように構成された、デバイスに関し、Ｘ線取得システムのための改善された散乱線除去グリッドを提供する。本発明は、Ｘ線取得システム２０のための改善された散乱線除去グリッド２６の使用を提供する。
Inventors:
Withergen Petrus Johannes
Hamel Eric
Van der Haar Peter George
Fan Nenaten Fred Simon Belend
Fan Royen Joest Adrinus
Hamel Eric
Van der Haar Peter George
Fan Nenaten Fred Simon Belend
Fan Royen Joest Adrinus
Application Number:
JP2020551581A
Publication Date:
August 10, 2021
Filing Date:
March 25, 2019
Export Citation:
Assignee:
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
International Classes:
A61B6/00
Domestic Patent References:
| JP2016515877A | 2016-06-02 | |||
| JP2011136102A | 2011-07-14 | |||
| JP2014042559A | 2014-03-13 |
Foreign References:
| US20020080922A1 | 2002-06-27 | |||
| WO2010134295A1 | 2010-11-25 |
Attorney, Agent or Firm:
Patent Services Corporation m&s Partners