Title:
Diagnostic device
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6170220
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】チェーンの細かな部分的伸びを厳密に検出できる伸び検出手段を有する診断装置を提供する。【解決手段】多数のリンク２２をそれぞれローラ２３により一定のピッチで連結したチェーン２１の伸び検出手段２０を有する．伸び検出手段２０は、チェーン２１の移動方向に沿って、前記ピッチの整数倍の長さ間隔で配置され、ローラ２３の通過ごとに検出信号を出力する２つのセンサー２５，２６を有する。また、センサー２５，２６の検出信号の立ち上がりタイミングを捉え、この立ち上がりタイミングのずれの大きさを閾値と比較して、チェーン２１の伸びを判定する伸び判定部２７を有する。【選択図】図２
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Inventors:
Hideo Takahashi
Yoshinobu Ishikawa
Masaaki Hirai
Yoshinobu Ishikawa
Masaaki Hirai
Application Number:
JP2016176571A
Publication Date:
July 26, 2017
Filing Date:
September 09, 2016
Export Citation:
Assignee:
Toshiba Elevator and Building Company
International Classes:
B66B31/00; B66B29/00; G01B11/16
Domestic Patent References:
| JPH11325829A | 1999-11-26 | |||
| JP2010190578A | 2010-09-02 | |||
| JP2002087750A | 2002-03-27 | |||
| JPH08295479A | 1996-11-12 | |||
| JPH07137976A | 1995-05-30 |
Attorney, Agent or Firm:
Amagi International Patent Office
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