Title:
測距装置及び測距方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024013232
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】従来よりもノイズに頑健な測距装置等を提供する。【解決手段】測距装置１００は、ＴＯＦ（Ｔｉｍｅ Ｏｆ Ｆｌｉｇｈｔ）方式により対象物までの距離を測定する測距装置であって、光源部４０と、光源部４０が出射した光が対象物２００で反射された反射光を受光する受光素子と、受光素子が反射光を受光することにより発生した電荷が振り分けられる第１タップ、第２タップ及び第３タップとを有する受光部６０と、光源部４０の発光タイミング、並びに、第１タップ、第２タップ及び第３タップに対応する露光タイミングのための制御信号を、基本信号に擬似乱数を用いた変調を加えることで生成する信号生成部２０とを備える。【選択図】図２
Inventors:
Hiroshi Kawasaki
Takashi Iwaguchi
Luo Wenbin
Tatsumasa Sagawa
Hajime Nagahara
Takashi Iwaguchi
Luo Wenbin
Tatsumasa Sagawa
Hajime Nagahara
Application Number:
JP2023117423A
Publication Date:
January 31, 2024
Filing Date:
July 19, 2023
Export Citation:
Assignee:
Kyushu University
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
National University Corporation Osaka University
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
National University Corporation Osaka University
International Classes:
G01S17/10
Attorney, Agent or Firm:
Masaki Nakahara
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