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Patent Searching and Data


Title:
誤り率測定装置および誤り率測定方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024022234
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】PCI Express6.0規格における被測定物のレシーバに最適な設定を視覚的に把握することができる。【解決手段】誤り率測定装置は、ビット誤り率の測定時間、Full Swing値、マトリックススキャン機能のスキャン対象となるセル、スキャン方向を設定するとともに、マトリックススキャン機能を実行したときの測定結果を表示する操作表示部2と、Full Swing値に応じた数のタブによりC-2の係数値を選択可能に表示し、選択したタブのC-2の係数値とC+1の各係数値とC-1の各係数値の組み合わせの一つ一つをセルとし、マトリックススキャン機能によって得られるセルごとのエラーカウント値とビット誤り率を表示画面上にマトリックス表示するとともに、セルごとのビット誤り率を表示画面上で誤り度合に応じて色分け表示する表示制御部6bと、を備える。【選択図】図1

Inventors:
Hiroki Onuma
Application Number:
JP2022125666A
Publication Date:
February 16, 2024
Filing Date:
August 05, 2022
Export Citation:
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Assignee:
Anritsu Corporation
International Classes:
H04L43/0829; H04L1/00
Attorney, Agent or Firm:
Norimitsu Nishimura
Noriyuki Suzuki