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Title:
要因分析装置、要因分析方法および要因分析プログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2015136586
Kind Code:
A1
Abstract:
説明時系列から特徴量を抽出する特徴抽出部1021と、特徴量を特徴時系列に変換する特徴変換部1022と、特徴時系列と目的時系列から、特徴時系列の目的時系列の値変化に対する影響度を算出する特徴時系列影響度算出部1031と、影響度に基づいて、説明時系列の目的時系列の値変化に対する影響度を算出する説明時系列影響度算出部1032とを備える。

Inventors:
Takehiko Mizoguchi
Application Number:
JP2016507134A
Publication Date:
April 06, 2017
Filing Date:
December 15, 2014
Export Citation:
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Assignee:
NEC
International Classes:
G06F17/18
Attorney, Agent or Firm:
Masahiko Desk
Naoki Shimosaka