Title:
転倒検出システム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023507860
Kind Code:
A
Abstract:
転倒検出システム及び方法は、スキャン・レーダー・チップによって取得されたデータが、モニタ領域内の標的を識別するために処理されるように、レーダー・チップを使用してモニタ領域をスキャンする。標的が追跡及びプロファイリングされ、その姿勢を示し、転倒検出ルールが適用される。モニタ領域の様々なセグメントの標準エネルギー・プロフィール及び時間依存エネルギー・プロフィールが生成され、モニタ領域の各標的セグメントの現在のエネルギー・プロフィールと比較される。異常が検出され、偽の転倒アラートが取り除かれ、検証された転倒アラートが生成される。
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Inventors:
Duvash, Amit
Tours, Ronen
Kremer, Ido
Kellen, Aaron Schumer
Zimmerman, Tomer
Orlovsky, Michael
Lomnitz, Yuval
Rosenhaus, Tusachi
Tours, Ronen
Kremer, Ido
Kellen, Aaron Schumer
Zimmerman, Tomer
Orlovsky, Michael
Lomnitz, Yuval
Rosenhaus, Tusachi
Application Number:
JP2022563249A
Publication Date:
February 27, 2023
Filing Date:
December 23, 2020
Export Citation:
Assignee:
Bayer Imaging Limited
International Classes:
A61B5/11
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation Asamura Patent Office