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Title:
PIM測定のためのフィルタ構造
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6526345
Kind Code:
B1
Abstract:
PIM(Passive Inter Modulation:パッシブ相互変調)テストベンチは、第1のフィルタを介して第3のポートに接続された第1のポートと、第2のフィルタを介して前記第3のポートに接続された第2のポートとを有する第1のデュプレクサを含む。第1のポートは、第1の周波数および第2の周波数でRF信号を供給する信号源によって供給されている。スペクトルアナライザは、第2のポートに接続されている。DUT(Device under Test:被試験デバイス)は、前記第3のポートと第2のデュプレクサの第3のポートとの間に接続されている。第2のデュプレクサの第1のポートおよび第2のポートの各々は、PIM最適化された負荷および/または標準負荷に接続されている。第2のデュプレクサは、好ましくは第1のデュプレクサと同一である。自己相互変調を最小化するために、少なくとも前記第1のデュプレクサは、少なくとも1つのフィルタコンポーネントと、金属性のハウジングとを含み、前記ハウジングはさらに、モノリシックな金属性の本体と、如何なるガルバニック接触をも有することなく前記本体に容量的に結合された金属性のカバーとを含む。

Inventors:
Martin Glassle
Gunther Kaiser
Application Number:
JP2018540762A
Publication Date:
June 05, 2019
Filing Date:
February 03, 2017
Export Citation:
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Assignee:
SPINNER GmbH
International Classes:
H01P1/205; G01N22/00; H01P1/213
Domestic Patent References:
JP2010509881A
JP63308401A
JP2001211007A
Foreign References:
WO2008029522A1
Attorney, Agent or Firm:
Einzel Felix-Reinhard
Morita Taku
Junichi Maekawa
Hiroyasu Ninomiya
Ueshima