Title:
異なるタイプの試料を分析するハイパースペクトル分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2018503843
Kind Code:
A
Abstract:
試料に関する情報を得るように構成されたハイパースペクトル分析サブアセンブリの一実施形態である。ハイパースペクトル分析サブアセンブリは、試料に電磁気的に接続された電磁放射線を生成する１つまたは複数の送信器と、試料に電磁気的に接続された電磁放射線を検出する１つまたは複数のセンサと、電磁気的に透過する窓と、を備える。センサの少なくとも１つは、窓を介して試料からの電磁放射線を検出する。ハイパースペクトル分析サブアセンブリは、試料に対する１つまたは複数の移動方向において、ハイパースペクトル分析サブアセンブリの少なくとも一部を駆動する分析駆動サブアセンブリを備える。【選択図】図２Ａ
Inventors:
Rudolf Jay Hoffmeister
Donald A Ice
Scott W Tandy
Donald A Ice
Scott W Tandy
Application Number:
JP2017558360A
Publication Date:
February 08, 2018
Filing Date:
January 26, 2016
Export Citation:
Assignee:
H2Optx Inc.
International Classes:
G01N1/28; G01N21/27; G01N21/33; G01N21/35; G01N21/64; G01N21/65
Domestic Patent References:
| JPH03255338A | 1991-11-14 | |||
| JP2012073073A | 2012-04-12 | |||
| JP2005106688A | 2005-04-21 |
Foreign References:
| WO2014057713A1 | 2014-04-17 | |||
| US7113265B1 | 2006-09-26 | |||
| WO2014080322A1 | 2014-05-30 |
Attorney, Agent or Firm:
Samejima Mutsumi
Hiroshi Okabe
Kenichi Nakatani
Hiroshi Okabe
Kenichi Nakatani