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Title:
改善された周波数領域干渉法による撮像システムおよび方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2017522066
Kind Code:
A
Abstract:
改善された干渉撮像のシステムおよび方法が提示される。1つの実施形態は、光ビームがサンプルにわたって2つの方向でスキャンされ、物体から散乱した光が空間的分解検出器を使用して集光される部分視野周波数領域干渉撮像システムである。光ビームは、サンプル上のスポット、線または2次元エリアを照明し得る。部分視野干渉法システムおよび他のタイプの干渉法システムに対する適用性を有する追加的な実施形態も提示される。

Inventors:
Schmol, Tillman
Tamlinson, Alexander Earl.
Everett, Matthew Jay.
Shemonski, Nathan
Application Number:
JP2016569071A
Publication Date:
August 10, 2017
Filing Date:
June 09, 2015
Export Citation:
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Assignee:
Carl Zeiss Meditec Inc.
International Classes:
A61B3/10; G01N21/17
Domestic Patent References:
JP2014094313A2014-05-22
JP2007105479A2007-04-26
JP2006116028A2006-05-11
JP2005217213A2005-08-11
JP2012010960A2012-01-19
JP2001523334A2001-11-20
JP2005530128A2005-10-06
JP2012502674A2012-02-02
JP2014079464A2014-05-08
JP2014048126A2014-03-17
JP2013085758A2013-05-13
JP2013525035A2013-06-20
Foreign References:
US20140050382A12014-02-20
US20120307035A12012-12-06
Attorney, Agent or Firm:
Makoto Onda
Hironobu Onda
Atsushi Honda