Title:
レーザ光特性測定方法及び測定装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP5827140
Kind Code:
B2
More Like This:
JP2001124630 | LASER WAVELENGTH MEASURING INSTRUMENT |
WO/2000/017612 | WAVEFRONT SENSING DEVICE |
JP2000091669 | METHOD AND DEVICE FOR DYE LASER OSCILLATION |
Inventors:
Fumihiko Ito
Masaaki Inoue
Koshikiya Yusuke
Hwang Shin Yu
Masaaki Inoue
Koshikiya Yusuke
Hwang Shin Yu
Application Number:
JP2012012319A
Publication Date:
December 02, 2015
Filing Date:
January 24, 2012
Export Citation:
Assignee:
Nippon Telegraph and Telephone Corporation
International Classes:
G01J9/02
Domestic Patent References:
JP2013007571A | ||||
JP2012229949A | ||||
JP2012112657A | ||||
JP2006242634A |
Other References:
KOSHIKIYA,Y. 他,“Long Range and cm-Level Spatial Resolution Measurement Using Coherent Optical Frequency Domain Ref,Journal of Lightwave Technology,2008年 9月15日,Volume 26, Issue 18,Pages 3287-3294
井上雅晶 他,“スペックル統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス度評価”,電子情報通信学会技術研究報告,光ファイバ応用技術[OFT],2011年11月10日,Volume 111, Number 298,Pages 1-4
井上雅晶 他,“スペックル統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス度評価”,電子情報通信学会技術研究報告,光ファイバ応用技術[OFT],2011年11月10日,Volume 111, Number 298,Pages 1-4
Attorney, Agent or Firm:
Yoshimoto Toyoda
Hiroshi Watanabe
Hiroshi Watanabe