Title:
磁場計測装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2015015628
Kind Code:
A1
Abstract:
アルカリ金属ガスが封入されたガラスセルを有し、スピン偏極したアルカリ金属の磁気光学特性を利用して磁場を検出する磁気センサ部と、前記磁気センサ部に導入励起光を発生する光源部と、前記磁気センサ部と同一の磁気シールド空間に設けられ、前記磁気センサ部に静磁場及びＲＦ磁場を印加するコイル部と、前記磁気センサ部のガラスセルを透過した光の検出信号をロックイン検波し、そのロックイン検波出力により前記コイル部から発生する前記静磁場の強度と前記ＲＦ磁場の周波数を制御するとともに、前記磁気シールド空間内の計測対象の磁場強度を反映した計測信号を得る信号処理装置を有する磁気計測装置であり、前記光源部は、レーザと、該レーザの出力光を受ける光変調器の出力光強度が所定値になるよう該光変調器を制御する強度安定化部と、該強度安定化部の光変調器を通過した光を分光した一方の光を受ける参照用ガラスセルから得た光の位相を基に前記レーザの共振器長を制御する周波数安定化制御信号を作成する周波数安定化部とを含み、該強度安定化部の光変調器を通過した光を分光したもう一方の光を前記励起光とする。
Inventors:
Ryuzo Kawabata
Akihiko Kadori
Taro Nagabe
Seiichi Suzuki
Kamada Yudai
Akihiko Kadori
Taro Nagabe
Seiichi Suzuki
Kamada Yudai
Application Number:
JP2015529297A
Publication Date:
March 02, 2017
Filing Date:
August 02, 2013
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G01R33/26
Domestic Patent References:
| JP2009128235A | 2009-06-11 | |||
| JPH0550758U | 1993-07-02 | |||
| JPH04137575A | 1992-05-12 | |||
| JPH0263321A | 1990-03-02 | |||
| JPS62188291A | 1987-08-17 |
Attorney, Agent or Firm:
Manabu Inoue
Yuji Toda
Shigemi Iwasaki
Yuji Toda
Shigemi Iwasaki