磁気プローブ・ベースの電流測定デバイスおよび測定方法

Japanese Patent JP2023518885

A

【課題】磁気プローブ・ベースの電流測定デバイスおよび測定方法を提供すること。【解決手段】デバイスは、被測定電流用導体（１００）と、磁気プローブと、磁気バイアス構造（３００、３００ａ、３００ｂ）と、プログラマブル・チップ（４００）とを備える。導体（１００）は、第１の軸線（０１）、第２の軸線（０２）、および第３の軸線（０３）を有する。導体（１００）は、スルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）を備える。スルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）の方向は第３の軸線（０３）に対して平行である。第１の断面におけるスルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）の縦方向突出は、第１の軸線を中心にして対称である。スルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）の少なくとも１つは、第１の軸線（０１）上に位置する中心位置を有する。ならびに／あるいは、スルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）の各対は、第１の軸線（０１）を中心にして対称である中心位置を有する。磁気プローブは、スルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）内に設けられ、プログラマブル・チップ（４００）に電気的に接続される。磁気プローブの感受性中心位置は第１の断面に位置する。第１の断面における磁気プローブの縦方向突出は、第１の軸線（０１）を中心にして対称である。磁気バイアス構造（３００、３００ａ、３００ｂ）はスルー・ホール（１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ）内に設けられる。磁気バイアス構造（３００、３００ａ、３００ｂ）の磁化方向（３０１）は、磁気プローブの感受方向（２０１１）に対して垂直である。デバイスは小型であり、高い測定精度および高い適合性という利点を有する。【選択図】図３

Chui, Ping
Shwe, Songchon
One, Hui Chuan
Liu and Dwon Shin

JP2022558124A

May 08, 2023

March 24, 2021

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MULTIDIMENSION TECHNOLOGY CO., LTD.

G01R19/00; G01R15/20

Patent Attorney Corporation Junias International Patent Office

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