Title:
計測システム及び計測方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024030561
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】変調信号の位相揺らぎの影響を低減して光パルスのスペクトル強度とスペクトル位相とを計測する計測システム及び計測方法を提供すること。【解決手段】本発明の一態様によれば、計測システムが提供される。この計測システムは、変調部と、復調部と、演算部とを備える。変調部は、光パルスを強度変調して第１の周波数で変調された光パルス列を生成する。復調部は、光パルス列を検出し、第１の周波数で復調して光パルスの振幅と位相とを特定する。振幅及び位相は、光パルスに含まれる光の波長ごとに特定される。演算部は、振幅に基づいてスペクトル強度を算出し、位相に基づいてスペクトル位相を算出する。【選択図】図１
Inventors:
Yasuyuki Kozeki
Kenichi Koguchi
Wataru Niuchi
Kenichi Koguchi
Wataru Niuchi
Application Number:
JP2022133524A
Publication Date:
March 07, 2024
Filing Date:
August 24, 2022
Export Citation:
Assignee:
National University Corporation The University of Tokyo
International Classes:
G01J11/00; G01J9/00
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation IPX
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