Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
会場内測位を使用した接触追跡のための方法およびシステム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023545834
Kind Code:
A
Abstract:
会場内のユーザのグループに対する接触追跡を確立するためのシステムおよび方法が提供される。会場内の位置情報が、各ユーザに関連付けられたポータブルデバイスからのデータに少なくとも部分的に基づいて一定期間の間各ユーザに対して推定される。少なくとも1つの接触パラメータが確立され、一定期間の間のユーザのグループのうちの少なくとも2人のユーザ間の接触が、少なくとも1つの接触パラメータと推定された位置情報とに少なくとも部分的に基づいて決定される。

Inventors:
Summit gosh
vijay ramesh
Nagesh Arunarthi
Jack george
Gennady Berkovich
Christopher Goodall
Takashi Nakayama
Application Number:
JP2023523271A
Publication Date:
October 31, 2023
Filing Date:
October 15, 2021
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
Invensense Incorporated
International Classes:
G16H50/80; G01S5/02
Attorney, Agent or Firm:
Yasuhiko Murayama
Shinya Mihiro
Tatsuhiko Abe