Title:
プラント形状計測装置及び計測方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024000783
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】大規模なプラントの抜け漏れが少ない３次元モデルの生成作業を効率化し得るプラント形状計測装置及び計測方法を提供する。【解決手段】プラントの詳細形状を表す点群を生成するためのデータを取得するプラント形状計測センサ１１１、プラント２００についてのボクセルマップを生成するボクセルマップ生成部１１３、プラント形状計測センサ１１１からの情報に基づき、点群データを生成し、プラント２００の３Ｄ－ＣＡＤモデルを生成する３Ｄ－ＣＡＤモデル生成部１４６と、を備え、プラント形状計測センサ１１１からの情報に基づき、ボクセルマップのうち、物体が含まれるボクセルと、物体が含まれないボクセルと、センサにより計測されていないボクセルと、を分類し、該分類結果を作業員に提示すると共にプラント形状を計測する。【選択図】 図１
Inventors:
Yukihiko Ono
Yoshinari Hori
Shrestha Aman
Kenji Imamoto
Yoshinari Hori
Shrestha Aman
Kenji Imamoto
Application Number:
JP2022099685A
Publication Date:
January 09, 2024
Filing Date:
June 21, 2022
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G01B11/24
Attorney, Agent or Firm:
Polaire Patent Attorneys Corporation