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Patent Searching and Data


Title:
PROBE PIN AND INSPECTION JIG USING THE SAME
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2017058205
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】被検査物の上方に検査治具を設置できるスペースが無くとも、被検査物を検査できるプローブピン、および、これを用いた検査治具を提供する。【解決手段】導電性を有するプランジャ16と、プランジャ16の周囲に巻回するように配置されたコイルばね50と、を有するプローブピン15である。特に、プランジャ16は、コイルばね50の一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体31と、コイルばね50の他端から突出する端子41と、を有する。そして、プランジャ本体31の先端部に設けた第1接点34と、端子41の先端部に設けた第2接点46とが同一方向に向いている。【選択図】図14

Inventors:
TERANISHI HIROSANE
SAKAI TAKAHIRO
KONDO MAKOTO
Application Number:
JP2015182128A
Publication Date:
March 23, 2017
Filing Date:
September 15, 2015
Export Citation:
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Assignee:
OMRON CORP
International Classes:
G01R1/067; G01R31/26; H01R13/24; H01R33/76
Attorney, Agent or Firm:
田中 光雄
山田 卓二
中嶋 隆宣