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Patent Searching and Data


Title:
SEMICONDUCTOR DEVICE
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2019146461
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】環境やシステムの放熱性等によって温度上昇量が異なる場合においても、より確実に過温度検出及び保護動作を行うことができる半導体装置を提供すること。【解決手段】半導体装置100の内部における所定の箇所に搭載され、搭載箇所の温度をモニタする温度モニタ素子11と、予め定めて記憶或いは生成した過温度閾値Vthを出力する閾値出力部12と、温度モニタ素子11の出力値Vdの時間あたりの上昇度合である傾きを検出する傾き検出部13と、過温度閾値Vthを傾き検出部で検出した温度モニタ素子11の出力値Vdの傾きに基づいて補正した判定閾値Vth2を生成する閾値補正部14と、判定閾値Vth2と温度モニタ素子11の出力値とを比較し、少なくとも判定閾値Vth2を温度モニタ素子11の出力値Vdが超えた場合にドライバ回路10による電流の駆動を停止する制御信号を出力する比較判定部15とを備える。【選択図】 図1

Inventors:
SAHARA RYUSUKE
Application Number:
JP2018031269A
Publication Date:
August 29, 2019
Filing Date:
February 23, 2018
Export Citation:
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Assignee:
HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD
International Classes:
H02H5/04; G01K7/01
Attorney, Agent or Firm:
特許業務法人開知国際特許事務所