Title:
ダイナミック・アプリケーション・ビルダーを使用した分離分散型測定分析システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022522958
Kind Code:
A
Abstract:
分離分散型測定分析システムは、試験測定自動化プラットフォームを提供し、これは、試験測定自動化プラットフォームの自動化エンジンにデプロイされるソリューションとして、ソリューション・ワークフロー・メタデータを使用して自動試験スイートを生成する。自動化プラットフォームは、測定を開発し、システムの再起動を必要とせずに、自動化エンジンにソリューションをデプロイするためのツールと手法を提供する。システムは、試験測定自動化プラットフォームにより、ユーザが、ソリューションの測定を開発し、ソリューションをコンパイルする必要なしに、試験測定自動化プラットフォームの自動化エンジンに各ソリューションをデプロイし、実行することを可能にする。
Inventors:
Robin Joly Puriken
Satish Kumar Makana Harry Lamia
Suriname Mandium Krishna Kumar
Mahesha Gatahari Lakshmi Patty
Vishnu Valdan Kandan
Satish Kumar Makana Harry Lamia
Suriname Mandium Krishna Kumar
Mahesha Gatahari Lakshmi Patty
Vishnu Valdan Kandan
Application Number:
JP2021540421A
Publication Date:
April 21, 2022
Filing Date:
January 10, 2020
Export Citation:
Assignee:
TEKTRONIX,INC.
International Classes:
G06F11/36; G06F8/30
Domestic Patent References:
| JP2005090959A | 2005-04-07 | |||
| JP2000163278A | 2000-06-16 |
Foreign References:
| US20130061206A1 | 2013-03-07 |
Attorney, Agent or Firm:
Hiroshi Arafune
Yoshio Arafune
Yamaguchi International Patent Office
Yoshio Arafune
Yamaguchi International Patent Office