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Patent Searching and Data


Title:
Structure inspection device
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6173626
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】取り扱いの手間が少なく、点検装置に与える振動を低減でき、構造物に存在する設備から受ける影響が少なくて効率的に動作でき、また、構造物の機能に与える影響の少ない構造物点検装置を提供する。【解決手段】構造物点検装置1は、車台15の両側に、検査路3の手摺13に沿って走行する車輪16を4個ずつ備える。車台15の上に、鉛直方向に延在すると共に軸回りに回転する回転支柱17と、回転支柱17の上端に揺動関節19を介して連結された伸縮可能な揺動アーム20と、揺動アーム20の一端にジンバル装置22を介して取り付けられた可視光カメラ23と、揺動アーム20の他端に取り付けられたカウンターウェイト25を有する。進行方向の端部の車輪16と、この車輪16と隣り合う車輪16との間の間隔が、手摺13が有する途切れ部の長さよりも大きく設定可能に形成されている。【選択図】図2

Inventors:
Kenichi Sugii
Ryojo Shigeki
Application Number:
JP2017002911A
Publication Date:
August 02, 2017
Filing Date:
January 11, 2017
Export Citation:
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Assignee:
Hanshin Rapid Technology Co., Ltd.
Naigai Structure Co., Ltd.
International Classes:
E01D22/00
Domestic Patent References:
JPH0541324U1993-06-01
JPS5984002U1984-06-06
JP2011246908A2011-12-08
JP2005090072A2005-04-07
Attorney, Agent or Firm:
Atsushi Morikawa