Title:
構造物点検支援装置、構造物点検支援システム、及び構造物点検支援プログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024014122
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】構造物の欠陥箇所の検出結果を明瞭に示す構造物点検支援装置、構造物点検支援システム及び構造物点検支援プログラムを提供する。【解決手段】構造物点検支援装置１は、構造物の画像が入力され、前記画像の各領域に対応する構造物の各箇所に欠陥が存在する確率を出力する識別器を記憶する記憶装置及び指定された構造物の画像を識別器に入力することにより、指定された構造物の画像の各領域における確率を示すデータである欠陥確率マップを出力する処理と、指定された構造物の画像における歪み箇所を特定し、特定した歪み箇所に基づき、出力した欠陥確率マップにおける歪み箇所に対応する領域の解像度を低下させ、解像度を低下させた領域における確率を所定アルゴリズムに従い上昇させることで、欠陥確率マップを修正する処理とを実行する処理装置を備える。【選択図】図１
Inventors:
Shigehisa Sakimura
Koji Kageyama
Masahiro Goto
Koji Kageyama
Masahiro Goto
Application Number:
JP2022116732A
Publication Date:
February 01, 2024
Filing Date:
July 21, 2022
Export Citation:
Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G06V10/70; E02D37/00
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation Isshiki International Patent Office
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