Title:
軌道回転ピンの直径寸法を検査するための装置および方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2020529330
Kind Code:
A
Abstract:
数値制御工作機械における幾何学的軸の周りの軌道運動において、クランクシャフトのクランクピン（１５）の直径を検査するための装置は、Ｖ字形基準デバイス（１０）と、測定デバイス（６）と、基準デバイスおよび測定デバイスを移動可能に支持する工具保持スライド（２）に固定された支持デバイス（４）とを含む。検査状態に向かうおよび検査状態から離れる装置の自動変位を制御するための制御デバイス（５０）は、プログラム可能型電気モータ（６０）と、伝達機構（６２）とを含む。プログラム可能型電気モータは、検査位置から離れる装置の自動変位を停止することができる開始位置、例えば静止位置または静止位置と検査状態との間の中間位置を定義するようにプログラムされる。プログラム可能型電気モータはまた、変位速度を定義するようにプログラムされ、検査方法は、検査状態に向かう自動変位を制御するステップを含む。
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Inventors:
Carlo, Daraglio
Application Number:
JP2020505316A
Publication Date:
October 08, 2020
Filing Date:
August 01, 2018
Export Citation:
Assignee:
MARPOSS S.P.A.
International Classes:
B23Q17/20; B24B5/42; B24B49/04
Domestic Patent References:
| JPH11513317A | 1999-11-16 | |||
| JP2016531014A | 2016-10-06 |
Foreign References:
| WO2011013710A1 | 2011-02-03 |
Attorney, Agent or Firm:
Yukitaka Nakamura
Satoru Asakura
Yukihiro Hotta
Murakoshi Taku
Satoru Asakura
Yukihiro Hotta
Murakoshi Taku