Title:
質量分析計のロバスト性を向上させるためのＲＦ／ＤＣフィルタ
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2018511917
Kind Code:
A
Abstract:
本明細書に説明されるシステムおよび方法は、望ましくない／干渉／汚染イオンが質量分析計システムの高真空チャンバの中に伝送されることを防止しながら、下流の質量分析器への伝送のためにイオンをイオン源から受容することができる、多極イオンガイドを利用する。種々の側面では、ＲＦおよび／またはＤＣ信号が、多極イオンガイドからのイオンの伝送を制御または操作するように、四重極ロッドセット内に介在される補助電極に提供されることができる。
Inventors:
Hager, james
Application Number:
JP2017550836A
Publication Date:
April 26, 2018
Filing Date:
March 22, 2016
Export Citation:
Assignee:
DA Technologies Development Private Limited
International Classes:
H01J49/42; G01N27/62
Attorney, Agent or Firm:
Hidesaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Natsuki Morishita