Title:
A monitoring circuit insulated in direct current
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016537623
Kind Code:
A
Abstract:
直流的に絶縁された回路におけるサーミスタ（１０７）のような抵抗性素子によって経験された温度のような環境パラメータを測定するための、又は素子によって生じた電圧を測定するためのシステムについて説明する。システムは、電圧パルス発生器（１１４）を備える測定回路（１）を備える。測定回路は、多数の電圧パルスの後における測定回路中の第１のキャパシタ（１１４）の両端の安定な電圧（Ｖ１０４）が、直流的に絶縁された回路中の素子の両端に接続された第２のキャパシタ（１０６）の両端の安定な電圧（Ｖ１０６）に比例するように、直流的に絶縁された回路にフライバック変圧器（１０１）によって誘導的に接続される。第１及び第２のキャパシタの両端の安定な電圧は、電圧パルスのデューティサイクルを調整することにより調整可能である。
Inventors:
Charles Pollock
Helen Pollock
Helen Pollock
Application Number:
JP2016520037A
Publication Date:
December 01, 2016
Filing Date:
October 01, 2014
Export Citation:
Assignee:
Technerec Limited
International Classes:
G01K7/24; G01K15/00; G01R19/00; G01R35/00; H02M3/28
Attorney, Agent or Firm:
Takuji Yamada
Mitsuo Tanaka
Kawabata Junichi
Hironobu Kashihara
Mitsuo Tanaka
Kawabata Junichi
Hironobu Kashihara
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